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優(yōu)勢供應(yīng)INGUN探針-德國測試工具
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德國INGUN質(zhì)量通過精密的測試而得出的，根據(jù)這個測試，1971年一直在開發(fā)、制造和銷售各種測試設(shè)備的領(lǐng)域。德國INGUN一個全球性經(jīng)營公司檢測設(shè)備制造和提供測試探針和測試夾具。
INGUN探針，測試針，用于測試PCBA的一種探針。表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。目前國外比較有名的生產(chǎn)廠家有：ECT，INGUN，QA，IDI、Semiprobe探針的材質(zhì)：W，ReW，A
1.目前主要采用的材質(zhì)為W，ReW，彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2.A材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
探針分類探針根據(jù)電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；B、在線測試探針：
PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（B1ade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針（ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mi1，75mi1，50mi1，還有更特別的直徑只有0.19mm，主要用于在線電路測試和功能測試.
也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針（Interface Probes）非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne）和安捷倫（Agilent）.用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.
3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關(guān)探針（Switch Probes）開關(guān)探針單一支探針有兩路電流.
5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.
7.高電流探針（High Current Probes）探針直徑在
2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針（Semiconductor Probes）直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz，50Q characteristic
9.電池接觸探針（Battery and Connector Contacts）一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長.除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.
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